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*000冠層分析儀使用過程對于遮蓋帽的使用
植物通過光合作用和蒸騰作用完成生長和繁殖等重要使命,而植物的光合有效輻射和葉面積指數又與植物冠層的健康狀況密切相關,我們通過對光合有效輻射的測量,可以知道植物光合作用利用光能的大小,而通過葉面積指數測量可以知道植物冠層的生長狀況好壞并表明生物量大小。而我公司研發(fā)并生產的植物冠層分析儀可以通過菜單操作的線性光合有效輻射測量儀,用于測量植物冠層中光線的攔截,同時計算葉面積指數。
在植物冠層分析儀的過程中,要注意使用遮蓋帽的使用,對于任何成對測量的A(Above)、B(Below)讀數,遮蓋帽必須是相同的尺寸,光探頭必須觀測相同部分的天空,并且必須保證遮蓋帽覆蓋相同部分的探頭(這只適用于使用相同探頭讀A和B值)。
使用遮蓋帽的目的:
1.擋住鏡頭視野中的太陽;
2.擋住鏡頭視野中的操作者;
3.太陽光亮度很不均一;
4.冠層中有明顯的空隙或土塊;
5.減少測量面積;
6.森林冠層上測量時減少所需空地的大小。
通常我們在以下幾種情況下,要使用180°或270°的遮蓋帽:一是避免近黃昏或非常稠密冠層下的信號損失;二是測量目標是LAIe(有效LAI),而不是LAI(真實LAI)。
更多詳情:
冠層分析儀 http://www.tpyn。。net/prolist_T38.html
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