一、簡介：

FM-AR532/AR785是一臺整合了原子力顯微鏡與激光拉曼光譜儀的*設(shè)備，是兩者技術(shù)的結(jié)合。

可以分別利用原子力顯微鏡和拉曼光譜儀對納米材料表面形貌、顆粒度、粗糙度和拉曼光譜性能進(jìn)行表征、分析，從而對樣品提供更加全面的信息。

這樣的集成，能讓用戶極大的提高工作效率，將更多的時(shí)間用于數(shù)據(jù)采集和分析，而無需為繁瑣的儀器操作而苦惱。

二、特點(diǎn)：

1、光機(jī)電算一體化設(shè)計(jì)。

2、內(nèi)置復(fù)消色差光學(xué)系統(tǒng)，同時(shí)清楚看到探針針尖和拉曼激光光斑。3、不移動樣品可以從相同的點(diǎn)同時(shí)采集AFM和拉曼數(shù)據(jù)，原位檢測樣品的各種形貌信息與化學(xué)信息，這樣就確保了數(shù)據(jù)的一致性。

3、高通量的光信號收集和檢測硬件保證采集每一點(diǎn)的信號和拉曼光譜。

4、掃描探頭和激光耦合器集成一體，懸掛式防震，抗力強(qiáng)。

三、應(yīng)用：

納米科技、物理、化學(xué)、藥物學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體研究、晶體研究、薄膜與聚合物研究、礦物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、分析科學(xué)等。

技術(shù)參數(shù)