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產(chǎn)品詳情
小型高低溫試驗箱用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化,產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響,設備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于3%,且試驗樣品不會受到設備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗 A:低溫試驗方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗 B:高溫試驗方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。
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