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參考價	面議

產(chǎn)品詳情

產(chǎn)品簡介

PGS/PGM 200光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計，可實現(xiàn)一機兩用，配合單通道探測器作為單色儀，配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成，為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計。掠入射光路設(shè)計將可探測波長拓展到4nm，與此同時，攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸，使CCD上接受的光通量zui大化。

真空紫外光譜儀技術(shù)特點
HJY的消像差平面光柵結(jié)合超環(huán)面鏡，同時兼顧高分辨率和低像差。
    在軸設(shè)計，光路易準直。
    出射光直射CCD表面，光通量大。
    只需更換出射狹縫和法蘭，即可實現(xiàn)單色儀和攝譜儀之間的切換，一機兩用。
    支持超高真空10^-9mbar，可接入同步輻射裝置。

典型應(yīng)用
    X射線光電子能譜
    等離子體物理研究
    高次諧波濾波
    紫外反射
    EUV光源表征

真空紫外光譜儀技術(shù)指標

三塊標準光柵可選
54401010	1800 gr/mm 光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV) 出射端口色散：0.4-0.68nm/mm 分辨率：0.2nm
54402010	800 gr/mm光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV) 出射端口色散：1.0 – 1.14m/mm 分辨率：0.3nm
54406010	450 gr/mm光柵，攝譜儀模式下光譜范圍：16-65 nm (7–80eV) 或 16-103nm (12-77eV) 出射端口色散：1.7–2.7m/mm 分辨率：0.5nm
光學(xué)設(shè)計	HJY平面光柵加超環(huán)面鏡光路設(shè)計
焦長	200 mm
孔徑	f/17
分辨率	低至0.2nm
波長驅(qū)動	步進電機
高真空	10^-6 mbar
真空泵法蘭	DN63 LF
狹縫	測微狹縫
陣列探測器法蘭	DN100CF/ICF152
可選項
狹縫	自動或固定
超高真空	10^-9 mbar，配備DN100CF真空泵法蘭和DN40CF真空計接口

單色儀模式下測得的30.4nm 氦譜線

附件
    前鏡腔，配備兩塊超環(huán)面鏡，實現(xiàn)光源和單色儀之間的光學(xué)匹配
    后鏡腔，配備兩塊超環(huán)面鏡，實現(xiàn)單色儀和樣品室之間的光學(xué)匹配
    樣品室，可搭載4塊直徑不大于25mm的樣品
偏振插片
    制冷機，zui低至4K
    真空泵

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發(fā)布詢價單

HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

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類型：: 生產(chǎn)廠家
聯(lián)系人：: 王先生

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商家概況

主營產(chǎn)品：: HORIBA歐洲總部自從1988年合并了美國SPEX公司和1995年合并了法國Dilor，Sofie等公司后，Jobin Yvon公司于1997年加入了世界第六大儀器制造集團――HORIBA公司，完成了公司強強聯(lián)手。如今Jobin Yvon在法國、美國、日本、英國、意大利、荷蘭設(shè)有生產(chǎn)廠家，其分支機構(gòu)遍布?，F(xiàn)在Jobin Yvon公司除了提供各種類型的衍射光柵和離子刻蝕全息光柵外，還提供各種類型的光譜儀產(chǎn)品，如：激光拉曼光譜儀（Raman），熒光（壽命）光譜儀（FL），直讀火花光譜儀（SPARK），電感耦合等離子發(fā)射光譜儀（ICP），輝光放電光譜儀（GDS），橢圓偏振光譜儀（Ellipsometry），特殊搭建系統(tǒng)（System）及各種光學(xué)光譜器件（成像光譜儀，光源，IR檢測器，CCD檢測器等）。目前，HORIBA Jobin Yvon公司設(shè)立了薄膜部、拉曼（光譜儀）部、發(fā)射（光譜儀）部、熒光（光譜儀）部、法醫(yī)部、光學(xué)儀器部、光柵&OEM儀器部等7個部門。旨在為您提供強大的技術(shù)支持與科研保障！