快速溫變試驗箱 20℃/min此設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測試區(qū)三部份，采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做冷熱沖擊測試，待測品為不移動之方式。

采用原裝日制微電腦大型液晶LCD（320x240Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
高程序記憶容量，可設(shè)定儲存100組程序，大循環(huán)設(shè)定9999Cycles，每段時間大設(shè)定999Hrs59Mins。
具有RS-232C通信接口裝置，可與計算機(jī)聯(lián)機(jī)操控／編輯／記錄及二組動態(tài)接點（TimeSignalRelay），使用便捷。
執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2Zone或3Zone之功能。
具備全自動，高精度系統(tǒng)回路，任一機(jī)件動作，由P.L.C.鎖定處理。
機(jī)件固障時，配有自動機(jī)回路及警示訊號。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時，具有緊急停機(jī)裝置。
快速溫變試驗箱 20℃/min設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h+12h循環(huán)）
GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則
GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
GJB150.4A-2009用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗

GJB150.9A-2009用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗