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專為半導體制造等高精度行業(yè)設計的露點儀TK-100
專為半導體制造等高精度行業(yè)設計的露點儀TK-100
TK-100是一款專為半導體制造等高精度行業(yè)設計的露點儀,主要用于監(jiān)測和控制氣體或環(huán)境中的水分含量。以下是TK-100的主要特點、技術參數和應用場景:
主要特點
高精度測量
TK-100采用先進的傳感器技術,能夠實現(xiàn)高精度的露點測量,確保半導體制造過程中的氣體和環(huán)境濕度符合嚴格的要求。
寬測量范圍
該露點儀具有寬廣的測量范圍,通常覆蓋從-100°C到+20°C的露點,適用于多種半導體制造工藝。
快速響應時間
TK-100具有快速的響應時間,能夠實時監(jiān)測氣體或環(huán)境中的水分變化,確保及時調整和控制。
抗污染能力強
在半導體制造環(huán)境中,可能存在各種化學污染物。TK-100設計有抗污染能力,能夠在惡劣環(huán)境中穩(wěn)定工作。
易于集成
TK-100支持多種通信協(xié)議,易于與現(xiàn)有的監(jiān)控和控制系統(tǒng)集成,方便用戶進行數據采集和分析。
用戶友好界面
該露點儀配備直觀的用戶界面,操作簡單,便于用戶進行設置和監(jiān)控。
技術參數
測量范圍:-100°C to +20°C 露點
精度:±2°C 露點
響應時間:<10秒(達到90%的最終讀數)
工作溫度:-20°C to +50°C
輸出信號:4-20mA, RS485, Modbus RTU
電源供應:24VDC
防護等級:IP65
應用場景
潔凈室監(jiān)控
TK-100用于監(jiān)測潔凈室中的露點,確保環(huán)境濕度符合半導體制造的要求。
氣體純度檢測
在半導體制造過程中,使用的高純度氣體(如氮氣、氬氣)需要嚴格控制水分含量。TK-100用于檢測這些氣體的露點,確保其純度。
工藝氣體監(jiān)控
在薄膜沉積、蝕刻等關鍵工藝中,TK-100用于監(jiān)控工藝氣體的露點,防止水分影響產品質量。
壓縮空氣系統(tǒng)
壓縮空氣中的水分會影響設備性能,TK-100用于監(jiān)測并保持系統(tǒng)干燥。
儲存和運輸
半導體材料和氣體在儲存和運輸過程中需要保持干燥,TK-100用于監(jiān)控環(huán)境條件。
優(yōu)勢
高可靠性:TK-100設計用于長時間穩(wěn)定運行,減少維護需求。
多功能性:適用于多種氣體和環(huán)境條件,具有廣泛的應用范圍。
易于維護:模塊化設計使得傳感器更換和校準變得簡單方便。
總結
TK-100露點儀憑借其高精度、快速響應和抗污染能力,在半導體制造設備中發(fā)揮著重要作用。它能夠有效監(jiān)控和控制氣體和環(huán)境中的水分含量,確保半導體制造過程的高質量和穩(wěn)定性。
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