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企業(yè)新聞

日東精工Loresta-GXⅱMCP-T710低電阻電阻儀的特性

2025年02月21日 16:49:37 人氣: 95 來源: 深圳九州工業(yè)品有限公司

Loresta-GXⅱMCP-T710低電阻電阻儀

特征
選項(xiàng)
用途

用途

Loresta-GX II是一種測量儀器，可測量電阻率，這是材料評估標(biāo)準(zhǔn)之一。

　隨著科學(xué)和技術(shù)的發(fā)展，不僅在研究和開發(fā)方面，而且在生產(chǎn)技術(shù)和質(zhì)量控制方面，以高精度的精度管理材料變得越來越有必要。其中，電阻率（表面，體積，電導(dǎo)率）是材料狀態(tài)和特性的指標(biāo)。 Loresta-GXⅱ是一種允許您使用校正因子輕松準(zhǔn)確測量此電阻率的設(shè)備。

該設(shè)備根據(jù)JIS K 7194使用測量方法，各種探針允許測量廣泛的材料，包括導(dǎo)電塑料，ITO薄膜和硅晶片。

與常規(guī)的四末端方法不同，它不需要為測量目標(biāo)制備電極，并且通過使用我們公司提供的各種四點(diǎn)探針，可以通過一鍵進(jìn)行電阻率測量。

主要測量目標(biāo)

■導(dǎo)電塑料，電磁屏蔽材料，硅晶片，導(dǎo)電橡膠，
導(dǎo)電涂料，糊狀，油墨，金屬薄膜，ITO玻璃，膜等

特征

它可以在必要的必要時在低準(zhǔn)確性的低電阻區(qū)域測量表面電阻率，體積電阻率（比電阻）和電導(dǎo)率。

與10 -4-107Ω相比，測量范圍增加了，即Loresta GP（10 -3-10 7）。
可以通過更改當(dāng)前方向進(jìn)行硅晶片測量
可變的常數(shù)電流功能（可以使用小電流進(jìn)行樣品測量）
2,000個測量結(jié)果可以輸出到USB內(nèi)存
使用觸摸面板改善了可操作性

選項(xiàng)

探針 *GX探針不能連接到GX II。

GX的姓名 /產(chǎn)品縮寫ASP探針 RMH110
和GP ASR探針 RMH501 用于GXⅱ

規(guī)格
：JIS K 7194兼容
引腳距離：5mm
銷釘提示：0.37R x 4
春季壓力：220克/
使用
導(dǎo)電塑料，導(dǎo)電涂料，薄膜等。
特征：
標(biāo)準(zhǔn)探針與JIS K7194兼容。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

ESP探針 RMH114和GP ESR Probe rmh502
forGXⅱ

規(guī)格
引腳距離：5mm
銷釘提示：φ2mmx 4
春季壓力：230g/
使用
諸如由碳粉和金屬粉末制成的非均勻標(biāo)本（尤其是注射模型產(chǎn)品）等
功能
混合在一起銷釘是直徑為2毫米的平面，使施加電流的流動變得易于流動。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
LSP探針
RMH116和GP LSR探針 RMH503
用于GXⅱ

規(guī)格
引腳距離：5mm
引腳提示：4個球
春季壓力：140克/
使用柔軟標(biāo)本的功能，
例如導(dǎo)電橡膠和薄膜上的薄膜引腳尖的端是球形的，直徑為2毫米，彈簧壓力很弱，因此銷釘很難滑入橡膠中。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

PSP探針 RMH112和GP PSR探針 RMH504
用于GXⅱ

規(guī)格
引腳距離：1.5mm
銷釘提示：0.26R x 4
春季壓力：95G/
使用
薄膜，小樣品，狹窄的空間
特征
薄膜的標(biāo)準(zhǔn)探針具有薄引腳，距離為1.5毫米。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫QP2探針
RMH119和GP QR探針 RMH505

規(guī)格
引腳距離：1.5mm
銷釘提示：0.26R x 4
春季壓力：95G/
使用
特別是對于小標(biāo)本和狹窄的空間
應(yīng)用
正方形類型。不建議這樣做，因?yàn)殡娮柚导s為4串串聯(lián)系列的一半，并且方便的類型不能支持校正系數(shù)。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
BSP探針
RMH111和GP BSR探針 RMH506
forGXⅱ

規(guī)格
引腳距離：2.5mm
銷釘尖的端：0.37R x 4
彈簧壓力：170g/此
應(yīng)用
測量兩個單獨(dú)的點(diǎn)之間的測量或前后（層間電阻）之間的測量方法
使用
4個銷釘分為兩個，并使用測試儀與左右手一一測量。 GX II主機(jī)使用腳開關(guān)時更方便。

注意：電阻率無法測量

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫

NSCP探針 RMJ202和GP
NSCR探針
RMH507

規(guī)格
引腳距離：1.0mm
銷釘尖的端：0.04R x 4
春季壓力：250克/
使用僅適用
于硅晶片銷材料是碳化鎢，帶有尖銳的尖的端和較強(qiáng)的彈簧壓力。

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
TFP探針RMJ217
（不可用）

規(guī)格
引腳距離：1.0mm
引腳提示：0.15R x 4
春季壓力：50克/
使用
用于硅晶片或玻璃基板上的薄膜

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
AP2探針
RMH333和GP RMH508
用于GXⅱ

規(guī)格
銷距離：10mm
銷釘尖的端φ2x 2
春季壓力：230g/
使用這是一種測量值，包括使用兩端方法的接觸電阻，用于
化學(xué)轉(zhuǎn)換涂層，例如表面處理的鋼板和鎂合金，因此電阻值很高。電阻值不正確，因此不會轉(zhuǎn)換為電阻率。它主要進(jìn)行定性評估。注意：電阻率無法測量

GX的名稱 /產(chǎn)品縮寫
BP探針
RMH118和GP RMH509
forGXⅱ

規(guī)格
引腳提示：φ2x 2
春季壓力：200G/此
應(yīng)用
2分探針測量目的，用于
在兩個由表面處理的鋼板和鎂合金等分隔的兩個點(diǎn)之間進(jìn)行測量。這是一種兩端方法，還包括接觸電阻，因此電阻值很高。電阻值不正確，因此不會轉(zhuǎn)換為電阻率。它主要進(jìn)行定性評估。注意：電阻率無法測量

注意：BSR，AR和BR探針可用于僅測量電阻值。

調(diào)查檢查器

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH304

電阻值
1.0Ω的
應(yīng)用
ASR/ESR/LSR/ASP/ESP/LSP

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH311

電阻值
1.0ΩPSR /PSP的
應(yīng)用

姓名 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH313

QR/QP2的電阻值1.0Ω
應(yīng)用

名稱 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH312

NSCR/NSCP/TFP的電阻值1.0Ω
應(yīng)用

姓名 /產(chǎn)品縮寫
探針檢查器
RMH335

電阻值
1.0Ω的
應(yīng)用
/br/ap/bp的應(yīng)用

名稱 /產(chǎn)品縮寫
腳開關(guān)
RMJ802

應(yīng)用 /規(guī)格
測量開始 /測量端開關(guān)
或開始鎖定解鎖功能

規(guī)格

測量方法	恒定當(dāng)前申請方法/四芬德方法
數(shù)據(jù)顯示	640 x 480點(diǎn)7.5英寸全彩色TFT LCD觸摸面板
詭計(jì)	可以設(shè)置上限和下限
探測	專用探針ASR，LSR，ESR，PSR，QR，BSR，NSCR，AR，BR
數(shù)據(jù)輸出	USB內(nèi)存
電源	AC85-264V 47-63Hz
尺寸和體重	W320 x D285 x H110mm（W320 x D285 x H200mm打開時）約2.4公斤
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備	ASR探針，4針探針檢查器

測量范圍和真實(shí)性

＼		恒定電流值
＼		1a	100mA	10mA	1ma	100μa	10μA
全部的測量 l 唔 JI	10 -4	±（2.0％+30DGT）
	10 -3	±（2.0％+20DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 -2	±（1.0％+5DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 -1	±（1.0％+3DGT）	±（1.0％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 0		±（0.5％+3DGT）	±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 1			±（0.5％+3DGT）	±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）

＼		恒定電流值
＼		1ma	100μa	10μA	1μa	0.1μa
全部的測量 l 唔 JI	10 2	±（0.5％+3DGT）	±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 3		±（0.5％+3DGT）	±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）	±（2.0％+20DGT）
	10 4			±（0.5％+3DGT）	±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+5DGT）
	10 5				±（0.5％+3DGT）	±（1.0％+3DGT）
	10 6					±（1.0％+3DGT）
	10 7					±（2.0％+5DGT）

關(guān)鍵詞：日本進(jìn)口,日東精工,低電阻電阻儀,可測量電阻率,測量儀器

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