脈沖發(fā)生器

FG-310

FG-310多功能脈沖發(fā)生器做為可選附件，與多功能閃頻裝

置組合使用。系統(tǒng)包括信號(hào)發(fā)生器，延遲裝置，預(yù)置計(jì)數(shù)器，

與納秒脈沖系列閃頻裝置結(jié)合使用，用于提供圖像處理需要

的光源，物理學(xué)的多次曝光攝影處理，或觀察高速運(yùn)動(dòng)物體

的狀態(tài)等。

產(chǎn)品參數(shù)

在半導(dǎo)體硅板的加工過程中，越來越多的制造廠商開始重視對(duì)其

壽命的測試，這個(gè)測試涉及對(duì)金屬雜質(zhì)含量及結(jié)晶瑕疵的判斷和

分析。因此日本NAPSON公司結(jié)合SUGAWARA的閃頻儀技術(shù)，

研發(fā)設(shè)計(jì)出針對(duì)硅板壽命測試的專用檢測設(shè)備。

壽命測試是指用氙氣閃光燈對(duì)硅板進(jìn)行短暫照射增加正負(fù)極電子數(shù)

量，在硅體電子數(shù)量伴隨使用時(shí)間減少后，通過照射增加到原來的

數(shù)量，恢復(fù)到初始狀態(tài)。P型硅晶體通常會(huì)有大量正極電子，而N型

則是負(fù)極電子偏多，通過氙氣閃光燈的短暫照射，可以使各自的電

子數(shù)量恢復(fù)到原始狀態(tài)。