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日本SUGAWARA菅原氙氣閃光燈頻閃儀應(yīng)用于半導(dǎo)體壽命測(cè)試系統(tǒng) MS-230DA
半導(dǎo)體壽命測(cè)試系統(tǒng)
硅板的壽命測(cè)試系統(tǒng)
(日本Napson公司)
在半導(dǎo)體硅板的加工過程中,越來越多的制造廠商開始重視對(duì)其壽
命的測(cè)試,這個(gè)測(cè)試涉及對(duì)金屬雜質(zhì)含量及結(jié)晶瑕疵的判斷和分析。
因此日本NAPSON公司結(jié)合SUGAWARA的閃頻儀技術(shù),研發(fā)設(shè)計(jì)
出針對(duì)硅板壽命測(cè)試的專用檢測(cè)設(shè)備。
壽命測(cè)試是指用氙氣閃光燈對(duì)硅板進(jìn)行短暫照射增加正負(fù)極電子數(shù)
量,在硅體電子數(shù)量伴隨使用時(shí)間減少后,通過照射增加到原來的
數(shù)量,恢復(fù)到初始狀態(tài)。P型硅晶體通常會(huì)有大量正極電子,而N型
則是負(fù)極電子偏多,通過氙氣閃光燈的短暫照射,可以使各自的電
子數(shù)量恢復(fù)到原始狀態(tài)。
相關(guān)產(chǎn)品
多功能分體式氙氣閃頻儀15W系列MS-230DA
產(chǎn)品參數(shù)
型號(hào) | MS-230DA |
---|---|
頻閃范圍 | 60 – 26,500 r/min |
燈泡 | 15 W |
閃光持續(xù)時(shí)間 | ≤6 µs |
功能 | 內(nèi)部觸發(fā),外接信號(hào)同步 |
電源 | AC100 V±10% |
尺寸 (W×H×D) | 270×170×190 mm |
重量 | 6.8 kg |
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